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제목 무역위원회, 반도체 테스트소켓 특허권 침해 조사건에 대해 비침해 판정
등록일 2018.08.24 조회수 2323
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무역위원회, 반도체 테스트소켓 특허권 침해 조사건에 대해 비침해 판정

- 18.8.23에 제380차 무역위원회 개최 -

 

 

산업통상자원부 무역위원회는 823() 380차 회의를 무역센터(서울)에서 개최하여, 반도체 테스트 소켓 특허권 침해 조사건에 대해 불공정무역행위 여부를 판정했다.

 

이번 조사 건은 국내 업체 아이에스시가 지난 ’17119일에 무역위원회에 조사를 신청해 ’171127일에 개시한 것으로, 9개월간 진행했다.

 

무역위원회는 조사를 진행하면서 양 당사자로부터 총 26차례의 변서와 의견서를 접수하했으며, 2회의 현지 조사, 조사대상물품에 대한 전문기관의 분석 및 감정, 기술설명회 등의 절차를 수행했다.

 

본 조사건의 주요 쟁점은 국내업체 A사가 수출하는 반도체 테스트 소켓(조사대상물품)아이에스시 특허의 권리 범위에 포함되는지 여부이다.

 

반도체 테스트 소켓은 제조된 반도체의 전기적 성능 검사를 위해 사용되는 소모품으로, 반도체 칩과 고가의 검사 장비를 전기적으로 연결하는 도전부 및 도전부를 형성하는 도전성 입자가 주요 구성이다.

 

양 당사자는 조사대상물품의 도전성 입자의 형상 및 도전성 입자들이 도전부에 배치된 형태가 아이에스시 특허의 청구 범위에 기재된 성에 해당하는지 여부에 대해 대립했다.

 

무역위원회는 A사의 반도체 테스트 소켓은 아이에스시가 보유한 특허와 비교하여 도전성 입자가 도전부에 배치된 형태가 상이하다고 판단하여, A사의 행위가 불공정무역행위에 해당하지 않는다고 판정했다.

 

이에 따라 A사는 반도체 테스트 소켓의 제조 및 수출 행위를 계속 수행할 수 있게 되었다.

 

산업통상자원부 무역위원회는 무역위원회의 조사 제도를 활용하면 기업의 수입 및 수출 행위가 특허·상표·디자인권 등 지식재산권을 침해하는 불공정무역행위에 해당하는지 여부를 신속하고 정확하게 확인할 수 있다앞으로 더욱 많은 기업들이 무역위원회의 불공정무역행위 조사제도를 이용해 주시기 바란다.’라고 밝혔다.

 

 

 

붙임 : 첨부사항 표시 ( 380차 무역위원회 개최 결과 1부. 끝.)

 

 

 

출처 : 산업통상자원부 불공정무역조사과 ( 문의: 이창남 ☎044-203-5888 )

 

 

 

 

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